膜厚校準片都有哪些規(guī)格？

　　膜厚校準片用于X射線測厚儀，在測量金屬鍍層厚度和建立測試檔案時的標準化校準。即膜厚測試中常用的標準曲線法是測量已知厚度或成分的標準樣品，根據熒光X射線能量強度與相應涂層厚度的對應關系得到標準曲線。該標準曲線用于測量涂層樣品以獲得涂層厚度或組成比。使用測厚儀檢測質量和控制成本，在PCB、五金電鍍和半導體行業(yè)發(fā)揮著非常重要的作用。

　　

　　膜厚校準片適用于實驗室、生產線和現(xiàn)場。方便的是在基材、表面處理或形狀上建立涂層厚度標準，是調整涂層測厚儀（薄膜測厚儀）校準，減少測量誤差，保證精度的理想方法。每個校準件都有一個序列號，可以追溯到原廠。校準片規(guī)格有：12.5微米µm、25微米、50微米、75微米、125微米、175微米、250微米、500微米、1000微米；（實際膜厚值會略有不同，具體數值會標注在每一片校準片的標簽上）。

　　

　　膜厚校準片應用領域：

　　

　　1、檢測電子電鍍、五金電鍍、PCB板、led支架等電鍍層的厚度。

　　

　　2、測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳、鋅鎳合金等。

　　

　　3、實測鍍層范圍：0.03μm～35μm。

　　

　　4、可測量單層、雙層、多層及合金鍍層，不限于基材。

　　

　　5、被測鍍層種類有：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳、鍍鋅鎳合金等。

　　

　　6、可測量單層、雙層、多層及合金鍍層，不限于基材。